JENAMA & MODEL | HECUS | ||||||||||
LOKASI ALAT: | No. 32, Makmal Tga, Blok C, Bangunan Sains Nuklear | ||||||||||
PENGENALAN ALAT: | Penyerakan sinar-X Bersudut Rendah dan Lebar (SWAXS) ialah salah satu teknik analisis sinar-X yang digunakan untuk mengenal pasti cirri-ciri struktur bahan yang mempunyai saiz dalam linkungan nanometer. Analisis ini dijalankan dengan memfokus alur sinar-X monokromatik keatas sample dan mendapatkan corak penyerakan menyondong (coherent) yang timbul akibat ketumpatan elektron yang tidak homogen dalam sampel. Berdasarkan kepada corak penyerakan, maklumat struktur partikel yang mempunyai saiz dalam lingkungan puluhan ke ribuan Angstrom (10-10 m). Teknik SWAXS boleh digunakan untuk mengkaji sistem yang terdiri daripada zarah yang mempunyai serakan tunggal (monodisperse) atau serakan berbagai (polydisperse). Dalam sistem serakan tunggal (monodisperse), saiz, bentuk dan struktur dalaman zarah dapat ditentukan. Bagi system serakan berbagai (polydisperse), taburan saiz bagi partikel dapat dikira dengan anggapan semua zarah dalam sistem mempunyai bentuk yang sama. | ||||||||||
KEGUNAAN ALAT: |
|
||||||||||
KEADAAN SAMPEL: | Pepejal, cecair dan gel | ||||||||||
JUMLAH MINIMA SAMPEL DIPERLUKAN: |
|
||||||||||
KEPERLUAN KHUSUS SAMPEL: | – | ||||||||||
TEMPOH ANALISIS: | Bergantung kepada keperluan pengguna | ||||||||||
KEUPAYAAN ANALISIS DILAKUKAN SEHARI: | 20 sampel sehari | ||||||||||
KOS ANALISIS: |
|
||||||||||
WAKTU OPERASI: | Sila berjumpa dengan operator berkenaan. | ||||||||||
PENYELARAS ALAT: |
Prof. Dr. Shahidan Radiman Email: shahidan@ukm.edu.my |
||||||||||
OPERATOR ALAT: |
Tazidi bin Taib Email: zidie@ukm.edu.my |