JENAMA & MODEL | XPS XSAM HS KRATOS ANALYTICAL | ||||||
LOKASI ALAT: | Blok C, Makmal Analisis Permukaan (Map), Bangunan Sains Nuklear, PPFG, FST. | ||||||
PENGENALAN ALAT: |
Spektroskopi Fotoelektron Sinar-X (XPS XSAM HS) ini berupaya menganalisis unsur sehingga 10 lapisan permukaan terluar sesuatu sampel dan beroperasi secara manual. Menggunakan perisian UNIX, data tidak terdedah kepada serangan virus dan worm. Data spektra yang diperolehi boleh diperincikan kepada bentuk peratusan berat unsur, tenaga ikatan binding energy (BE) dan tenaga kinetik kinetic energy (KE) . |
||||||
KEGUNAAN ALAT: | Pencirian bahan secara kuantitatif dan kualitatif | ||||||
KEADAAN SAMPEL: | Pepejal (Solid dan Serbuk) | ||||||
JUMLAH MINIMA SAMPEL DIPERLUKAN: |
|
||||||
KEPERLUAN KHUSUS SAMPEL: | – | ||||||
TEMPOH ANALISIS: | 1 jam per sampel | ||||||
KEUPAYAAN ANALISIS DILAKUKAN SEHARI: | 2 sampel sehari | ||||||
KOS ANALISIS: |
|
||||||
WAKTU OPERASI: |
Isnin – Jumaat (Temujanji dengan operator) |
||||||
PENYELARAS ALAT: |
Dr. Norinsan Kamil Othman Email: insan@ukm.edu.my |
||||||
KETUA PEGAWAI SAINS: |
Encik Rusli bin Yahya Email: rby@ukm.edu.my |
||||||
OPERATOR ALAT: |
Tuan Haji Md Said bin Ab Ghani Email: mdsaid@ukm.edu.my
Encik Azlan Shah bin Mustafa Email: nalza@ukm.edu.my |
||||||
No. Tel. | samb. 3358/ 0132607688 |