X-Ray Photoelectron Spectrometer (XPS)

0
JENAMA & MODEL XPS XSAM HS KRATOS ANALYTICAL
LOKASI ALAT: Blok C, Makmal Analisis Permukaan (Map), Bangunan Sains Nuklear, PPFG, FST.
PENGENALAN ALAT:

furnaceSpektroskopi Fotoelektron Sinar-X (XPS XSAM HS) ini berupaya menganalisis unsur sehingga 10 lapisan permukaan terluar sesuatu sampel dan beroperasi secara manual. Menggunakan perisian UNIX, data tidak terdedah kepada serangan virus dan worm.

Data spektra yang diperolehi boleh diperincikan kepada bentuk peratusan berat unsur, tenaga ikatan binding energy (BE) dan tenaga kinetik kinetic energy (KE) .

KEGUNAAN ALAT: Pencirian bahan secara kuantitatif dan kualitatif

KEADAAN SAMPEL: Pepejal (Solid dan Serbuk)
JUMLAH MINIMA SAMPEL DIPERLUKAN:
  1. Sampel pepejal Luas minima 1cm x 1cm
  2. Sampel tidak berlubang.
KEPERLUAN KHUSUS SAMPEL:
TEMPOH ANALISIS: 1 jam per sampel
KEUPAYAAN ANALISIS DILAKUKAN SEHARI: 2 sampel sehari
KOS ANALISIS:
STATUS KOS (RM) CATATAN
PELAJAR PRA-SISWAZAH UKM 50.00  
WAKTU OPERASI:

Isnin – Jumaat (Temujanji dengan operator)

PENYELARAS ALAT:

Dr. Norinsan Kamil Othman

Email: insan@ukm.edu.my

KETUA PEGAWAI SAINS:

Encik Rusli bin Yahya

Email: rby@ukm.edu.my

OPERATOR ALAT:

Tuan Haji Md Said bin Ab Ghani

Email: mdsaid@ukm.edu.my

Encik Azlan Shah bin Mustafa

Email: nalza@ukm.edu.my

No. Tel. samb. 3358/ 0132607688

Leave A Reply