SAINS MALAYSIANA

Sains Malaysiana 51(12)(2022): 4087-4098

http://doi.org/10.17576/jsm-2022-5112-17

Enhanced Catalytic Palladium Embedded Inside Porous Silicon for Improved Hydrogen Gas Sensing

(Paladium Bermangkin Dipertingkat Terbenam di dalam Silikon Berliang untuk Pengesanan Gas Hidrogen yang Diperbaik)

ALHAN FARHANAH ABD RAHIM^{1, *}, NURUL SYUHADAH MOHD RAZALI¹, ROSFARIZA RADZALI¹, AINOKHILAH MAHMOOD², IRNI HAMIZA HAMZAH¹ & MOHAMED FAUZI PACKEER MOHAMED³

¹Centre for Electrical Engineering Studies, Universiti Teknologi MARA, Cawangan Pulau Pinang, Permatang Pauh Campus, 13500 Pulau Pinang, Malaysia

²Department of Applied Science, Universiti Teknologi MARA, Cawangan Pulau Pinang, 13500 Permatang Pauh, Pulau Pinang, Malaysia

³School of Electrical and Electronic Engineering, Engineering Campus, Universiti Sains Malaysia, 14300 Nibong Tebal, Pulau Pinang, Malaysia

Diserahkan: 13 April 2022/Diterima: 20 Ogos 2022

Abstract

In this work, we reported on room temperature porous silicon (PS) and embedding PS using simple and economical techniques of electrochemical etching and thermal evaporation. The PS substrate was prepared using the technique of electrochemically etching the n-type Si (100) wafer at a constant current density of 10 mA/cm² for 10 min under the illumination of incandescent white light. After PS formation, Ge pieces were thermally evaporated onto the two PS substrates in a vacuum condition. This was then followed by the deposition of the ZnO layer onto the Ge/PS substrate by the same method using commercial 99.9% pure ZnO powders. The three samples were identified as PS, Ge/PS and ZnO/Ge/PS samples, respectively. Pd finger contacts were deposited on the PS and embedding PS (Ge/PS and ZnO/Ge/PS) to form Pd on PS hydrogen sensors using RF magnetron sputtering. SEM and EDX suggested the presence of substantial Ge and ZnO inside the uniform circular pores for Ge/PS and ZnO/Ge/PS samples, respectively. Raman spectra showed that good crystalline Ge and ZnO nanostructures embedded inside the pores were obtained. For hydrogen sensing, Pd on ZnO/Ge/PS Schottky diode exhibited a dramatic change of current after exposure to H₂ as compared to PS and Ge/PS devices. It is observed that the sensitivity increased exponentially with the hydrogen flow rate for all the sensors. The ZnO/Ge/PS showed more sensitivity towards H₂ than that of PS and Ge/PS especially at high flow rate of H₂ with higher current gain (69.11) and shorter response (180 s) and recovery times (30 s).

Keywords: Ge; H₂ sensor; porous silicon; thermal evaporation; ZnO

Abstrak

Dalam kajian ini, kami melaporkan silikon berliang (PS) dan PS terbenam menggunakan teknik mudah dan murah secara elektrokimia dan penyejatan terma pada suhu bilik. Substrat PS telah disediakan menggunakan teknik pengelasan elektrokimia wafer Si (100) jenis-n pada ketumpatan arus malar 10 mA/cm² selama 10 minit di bawah pencahayaan cahaya putih pijar. Selepas pembentukan PS, kepingan Ge disejat secara terma ke dua substrat PS dalam keadaan vakum. Ini diikuti dengan pemendapan lapisan ZnO ke substrat Ge/PS dengan kaedah yang sama menggunakan serbuk ZnO tulen komersial 99.9%. Ketiga-tiga sampel tersebut telah dikenal pasti sebagai sampel PS, Ge/PS dan ZnO/Ge/PS. Sentuhan berbentuk jari daripada Pd didepositkan pada PS dan PS terbenam (Ge/PS dan ZnO/Ge/PS) untuk membentuk Pd di atas penderia hidrogen PS dengan menggunakan teknik RF magnetron terpercik. SEM dan EDX mencadangkan kehadiran Ge dan ZnO yang besar di dalam liang bulat seragam masing-masing untuk sampel Ge/PS dan ZnO/Ge/PS. Spektrum Raman menunjukkan bahawa struktur nano Ge dan ZnO kristal yang baik yang tertanam di dalam liang telah diperoleh. Untuk penderiaan hidrogen, Pd pada diod Schottky ZnO/Ge/PS menunjukkan perubahan dramatik arus selepas pendedahan kepada H₂berbanding dengan peranti PS dan Ge/PS. Diperhatikan bahawa kesensitifan meningkat secara eksponen dengan kadar aliran hidrogen untuk semua sensor. ZnO/Ge/PS menunjukkan lebih kesensitifan terhadap H₂ berbanding PS dan Ge/PS terutamanya pada kadar aliran tinggi H₂ dengan perolehan arus yang lebih tinggi (69.11) dan tindak balas yang lebih pendek (180 s) dan masa pemulihan (30 s).